すべてのCTベースの計測は、ボクセルモデルでの正確な表面決定に依存しています。表面の決定が優れているほど、測定の不確かさは小さくなります。 

面の定義：

• 測定の不確かさを最小限に抑えます。
• サブボクセル精度で局所的に適応することにより、ボクセルよりも小さい詳細を測定できるようになります。
• 周囲のボクセルのグレイバリューに応じて個々のボクセルのグレイバリューを処理します。これにより、単一のグレイスケールしきい値に依存するよりも面定義が著しく正確になります。
• 自動化された環境内で、グレイバリューの条件が変化する場合でも、高精度で局所的に適応可能な面定義を可能にする間隔ベースのモードを提供します。
• ボリューム内の複数のマテリアル表面を同時に判断できるマルチマテリアルモードを提供し、マテリアルごとに1つのコンポーネントを生成します。

設計値部品または座標系への位置合わせは、測定結果にとって非常に重要です。これにより、設計値寸法と測定寸法の抽出と比較、およびアセンブリの調査が可能になります。

VGソフトウェアで以下ができるようになります。

• ポイントベース、サーフェスベース、および幾何ベースのアプローチを使用して、データセットを参照データセットまたは座標系に位置合わせします。
  • ポイントベース：RPSおよび3-2-1アライメント。
  • 表面ベース：特徴的な領域に焦点を合わせた、機能ベースの制約や部分的な領域にも最適です。
  • 幾何ベース：シーケンシャルアラインメントにより、物理的なアラインメントの模倣が可能になり、対応する幾何のペアが次々に作成されますが、自由度が低下します。残りは、モデル全体またはモデルの一部に最適に合わせて調整できます。
• それらの品質を決定するための許容値調整結果。
• カスタムおよびローカルの座標系とデータムシステムを使用して、線形を変更するときに自動測定更新を提供します。
• ジオメトリ補正モジュールの一部として非剛体アライメントを使用します。

スキャンから幾何要素を抽出することは、寸法と公差を評価するための基礎です。 

VGソフトウェアでできること：

• スキャンから幾何要素を抽出します。
• ＂スマートエキスパンド＂で幾何要素のタイプを自動的に認識します。
• 境界距離、密度、角度偏差、フィット方法（GaussやChebycheffなど）、および1つまたは複数の位置への制約によって幾何要素のフィッティングを制御します。
• PTBおよびNIST*によって認定されたアルゴリズムを使用します。

* PTBおよびNISTで検証済み：VGSTUDIO MAXのボリュームグラフィックス計測カーネルVGMK 2023.1.0は、ドイツ国立計量機関である物理工学研究所（PTB）による「最小領域法（チェビシェフ）」および「最小二乗法（ガウス）」アルゴリズムの検証済みです。またアメリカ国立標準技術研究所（NIST）による「座標計測システムのアルゴリズムおよび評価プログラム」で検証済みです。Windows 64ビットで取得された結果での検証。

VGソフトウェアでは、バルーン番号によって名前、寸法、公差を自動的に設定する標準化された、または個別の公差テーブルを使用して、2Dおよび3Dの寸法を測定できます。物理座標測定機、光学スキャナなどのすべての機能が利用できます。

寸法測定の機能は次のことができます。

• 画面、シーンツリー、またはすべての要素の表形式の概要で幾何要素を選択するだけで、距離、角度、半径などの寸法を2Dと3Dの両方で作成できます。
• 設計値CAD、PMI情報、個々の値、または公差表から公差を割り当てます。
• 任意の投影方向の値を抽出してレポートします。
• 非常に大規模な測定計画には高度なフィルタ機能を活用して、シーンツリー内のフィーチャーとサブフィーチャーを特定します。

機器を使用して、ポイントツーポイントベースの距離と角度の解析と注釈をすばやく作成します。

VGソフトウェアは、線や表面のプロファイル、最大マテリアル要件（MMR）の位置など、17の幾何学的寸法および公差（GD＆T）コールアウトすべてをサポートしています。

GD＆T機能：

• すべてのGD＆Tコールアウトをサポートします。
• ISOまたはASME規格に準拠しており、継続的に更新されています。
• 複雑な（自由形式の）データム、ライン/面の輪郭度解析、および最小/最大マテリアル状態をサポートします。
• ローカル座標系とデータムシステムをサポートします。
• 可能な場合は、GD＆T解析を分かりやすいカラーオーバーレイとして可視化できます。
• すべての複雑なGD＆T情報を相対カラーマップで同時に表示することにより、ユーザーフレンドリーな方法で全体的な幾何学的解析を評価できます。
• データムシステムがある場合とない場合の面の輪郭度コールアウトをオーバーレイし、同時に結果を可視化できます。
• ソフトウェアによって与えられた可視的な手がかりに基づいて、位置のずれの値と方向を解釈できるようにします。

• 歪んだ部品の形状に描画する適応測定テンプレートを使用すると、50％以上の時間を節約できます。射出成形品と3D印刷パーツの初回製品は、許容値外であるだけでなく歪みがある場合も多く、CAD設計値オブジェクトで作成された測定計画をスキャンされたパーツに適用できない場合があります。適応測定テンプレートを使うと、CAD設計値データで作成したり、PMIを介して読み込んだ測定計画をより歪みのひどいパーツに適用したりできます。測定点は実際の部品の最適な位置に配置され、歪んだ形状を追跡します。
• ストレージシステムや、高スキルのユーザーが行う時間のかかる手作業の機能の後処理は不要になります。この新しい特許技術により、今までローカル座標系のみでしか正しく解析できなかった歪んだパーツに、寸法と許容値を適用することが可能です。